Recherche - Université de Reims Champagne-Ardenne Accéder directement au contenu

Filtrer vos résultats

8 résultats
Page :
triés par
Image document

Characterization of silicon vacancies and divacancies in hexagonal silicon carbide formed by nitrogen and aluminum ion implantation

 Enora Marion Vuillermet , Nicolas Bercu , Florence Etienne , Mihai Lazar , Louis Giraudet
C'Nano 2023: The Nanoscience meeting, Mar 2023, Poitiers, France.
Poster de conférence hal-04171800v1

Thermal Boundary Conductance across metal/semiconductor junction, measurement and electrical influences

 Quentin Pompidou , Mélanie Brouillard , J.F. Robillard , Mihai Chirtoc , Nicolas Horny
14ème Journées de la Matière Condensée JMC, Société Française de Physique, Aug 2022, Lyon, France
Communication dans un congrès hal-04434306v1
Image document

Coupled non-destructive methods, Kelvin Force Probe microscopy and µ-Raman to characterize doping in 4H-SiC power devices

 Enora Marion Vuillermet , Kuan-Ting Wu , Anaël Sédilot , Regis Deturche , Nicolas Bercu , et al.
2023
Pré-publication, Document de travail hal-04211449v1

Thermal contact resistance measurements on metal-semiconductor structures by scanning thermal microscopy and 3ω method

 Juan Carlos Acosta Abanto , Mélanie Brouillard , Marc Dewitte , Jean-François Robillard , Nicolas Horny , et al.
Trends in Nanotechnologies (TNT), Aug 2023, Villeurbanne, France
Communication dans un congrès hal-04311000v1

Caractérisation du dopage de dispositifs de puissance en 4H-SiC par KPFM et spectroscopie µ-Raman

 Anaël Sédilot , Enora Marion Vuillermet , Régis Deturche , Elise Usureau , Jérémie Béal , et al.
24ème Forum des microscopies à sonde locale, Apr 2023, Obernai, France
Communication dans un congrès hal-04171760v1

Electrothermal measurements at boundaries including of metal-semiconductor structures ones by scanning thermal microscopy and 3ω method

 Juan Carlos Acosta Abanto , Mélanie Brouillard , Marc Dewitte , Jean-François Robillard , Nicolas Horny , et al.
Interface days, Jul 2023, Paris, France
Communication dans un congrès hal-04311003v1
Image document

Cathodoluminescence Characterization of Point Defects Generated through Ion Implantations in 4H-SiC

 Enora Marion Vuillermet , Nicolas Bercu , Florence Etienne , Mihai Lazar
Coatings, 2023, 13 (6), pp.992. ⟨10.3390/coatings13060992⟩
Article dans une revue hal-04170818v1

Electrothermal measurements of metal-semiconductor structures by scanning thermal microscopy and 3ω method

 Juan Carlos Acosta Abanto , Mélanie Brouillard , Marc Dewitte , J.F. Robillard , Nicolas Horny , et al.
17th International Conference on Phonon Scattering in Condensed Matter (Phonons 2023), Jul 2023, Paris, France
Poster de conférence hal-04310991v1
Page :